Osciloskopi: Zašto je dubina memorije važna
Koje su dve ključne prednosti osciloskopa sa dubokom memorijom akvizicije?
Dubina memorije akvizicije je jednaka broju uzoraka koji se čuvaju sa svakom akvizicijom. Dubina memorije je specificirana u tačkama (Mpoint) ili uzorcima...
Naučnici uspeli da teleportuju 10.000 bita informacija u jednoj sekundi
Po prvi put u istoriji, naučnici sa švajcarskog Federalnog tehnološkog instituta u Cirihu (ETH) su uspeli da teleportuju 10.000 bita informacije u jednoj sekundi, sa određene tačke A do tačke B....
Određivanje strujno-naponske karakteristike pomoću osciloskopa
Neispravne komponente se mogu brzo identifikovati analizom trenutnih naponskih i strujnih karakteristika svake komponente. Tester komponenata izuzetno je pogodan za ovu namenu. On olakšava brzo ispitivanje kondenzatora, otpornika, tranzistora, tiristora, induktora,...
NEUREL 2008
Od 25. do 27. septembra je na Elektrotehničkom fakultetu u Beogradu održan deveti po redu Simpozijum na temu primene neuralnih mreža i fuzzy sistema u elektrotehnici. Simpozijumi su...
Višejezgarni procesori u automatizacionoj opremi
Industrijski sistemi su tradicionalno građeni kao skupovi odvojenih platformi, gde je svaka platforma radila pod svojim operativnim sistemom i na nezavisnom hardveru. Ovakvu organizaciju zahtevale su kritične aplikacije, kako bi uspele...
Otklanjanje elektromagnetnih smetnji na nivou razvoja štampanih ploča i modula
Analizirajte signale u zoni bliskog polja (near-field signals) i smanjite elektromagnetne smetnje (EMI) na štampanim pločama i modulima sa R&S®Spectrum Rider FPH i R&S®HZ-15 sondama. Vaš zadatak
EM (elektromagnetno) zračenje i prenos signala...
Wireless I/O za NI CompactRIO National Instruments-a
National Instruments je predstavio novi bežični gateway i dva nova merna čvora, koji proširuju mogućnosti NI bežične senzorske mrežne platform (WSN) i ilustruju posvećenost kompanije za bežične tehnologije merenja. Sa NI LabVIEW softverom za...
Inženjeri optimizuju test strategije uz NI Automated Test Outlook 2014
National Instruments je danas predstavio Automated Test Outlook 2014, ujedno predstavljajući i najnovije rezultate istraživanja u test i mernim tehnologijama i metodologijama. Inženjeri i menadžeri mogu koristiti ovaj izveštaj u primeni...
Uređaj koji će učiniti konverziju električne energije jednostavnijom
Energetska elektronika nalazi se svuda oko nas. Nalazi se i u akumulatorima električnih automobila i u samoj električnoj mreži, u dalekovodima, pa i u utičnicama širom našeg doma. Ona vrši funkcije...
Od dečijih igračaka do 4G tehnologije – 30 godina DSP tehnologije
Glavni saradnik kompanije ''Texas Instruments'' (TI), Gene Frantz kaže: ''Trenutak za kompanije, pionire u digitalnom procesiranju signala - DSP dolazi kasnih ’70-ih godina, ubrzo nakon razvoja ''Speak & Spell'' igračaka koje...
